使用寿命测试项目(Life test items)

EFR, OLT (HTOL), LTOL
①EFR:早期失效等级测试( Early fail Rate Test )
目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品。
测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试
失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效。
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:JESD22-A108-A ;EIAJED- 4701-D101 。
②HTOL/ LTOL:高/低温操作生命期试验(High/ Low Temperature Operating Life )
目的:评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力
测试条件:125℃,1.1VCC, 动态测试
失效机制:电子迁移,氧化层破裂,相互扩散,不稳定性,离子玷污等
参考标准:
125℃条件下1000小时测试通过IC可以保证持续使用4年,2000小时测试持续使用8年;
150℃ 1000小时测试通过保证使用8年,2000小时保证使用28年。
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准 :MIT-STD-883E Method 1005.8 ;JESD22-A108-A ;EIAJED- 4701-D101 。

产品可靠性

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